






1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试,南昌磨损监测,目的是测试自动生成的代码写入控制器后,功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要,但不做重视也会引起一些不良后果(如调度问题、CPU Load,堆栈溢出等)
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试,轴承磨损监测,测试控制器完整系统功能,一般会搭建控制器所在系统的测试台架,使用电气元件模拟传感器(如温度)和执行器(如风扇负载)的电气特性,验证完整的系统功能。
整车路试,MB匹配,Crest试验等验证外观、NVH性能、耐久等。如今对NVH的要求越来越高,NVH也是大多数主机厂的痛点之一。路试会进行各种工况,除了跑道坏路,还要上高原,下盆地,冬天去黑河,刹车片磨损监测,夏天去海南。所以主机厂的试验条件肯定比大家平时用车条件苛刻n倍。目前由于CAE技术的进步。fang真分析同步上零件试验中。如早起的强度fang真,中期的气袋点爆模拟,后期的整车约束系统fang真等。

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